材料耐電壓擊穿測(cè)試介電常數(shù)測(cè)試儀

更新時(shí)間：2024-08-06

簡(jiǎn)要描述：材料耐電壓擊穿測(cè)試介電常數(shù)測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。

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LJD系列材料耐電壓擊穿測(cè)試介電常數(shù)測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)：
ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；
GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；
GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；

LJD系列介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

一、符合標(biāo)準(zhǔn)：

ASTM D150-11實(shí)心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率（介電常數(shù)）的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法；

GB/T1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法；

GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)定方法；

GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法第4部分:介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法；

二、 材料耐電壓擊穿測(cè)試介電常數(shù)測(cè)試儀主機(jī)及夾具參數(shù)：

項(xiàng)目/型號(hào)	LJD-B	LJD-A	LJD-C
信號(hào)源	DDS數(shù)字合成信號(hào)
頻率范圍	10KHZ-70MHZ	10KHZ-110MHZ	100KHZ-160MHZ
信號(hào)源頻率覆蓋比	7000:1	11000:1	16000:1
采樣精度	11BIT		12BIT
信號(hào)源頻率精度	3×10-5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)
Q值測(cè)量范圍	1～1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q值量程分檔	30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
Q分辨率	4位有效數(shù)，分辨率0.1
Q測(cè)量工作誤差	＜5%
電感測(cè)量范圍	1nH～8.4H,；分辨率0.1		1nH～140mH；分辨率0.1
電感測(cè)量誤差	＜3%
電容直接測(cè)量范圍	1pF～2.5uF		1pF～25uF
調(diào)諧電容誤差分辨率	±1pF或＜1%
主電容調(diào)節(jié)范圍	30～540pF		17～240pF
諧振點(diǎn)搜索	自動(dòng)掃描
自身殘余電感扣除功能	有
大電容值直接顯示功能	有
介質(zhì)損耗直讀功能	有
介質(zhì)損耗系數(shù)精度	萬(wàn)分之一
介質(zhì)損耗測(cè)試范圍	0.0001-1
介電常數(shù)直讀功能	有
介電常數(shù)精度	千分之一
介電常數(shù)測(cè)試范圍	0-1000
LCD顯示參數(shù)	F,L,C,Q,LT,CT,波段等
準(zhǔn)確度	150pF以下±1pF；150pF以上±1%
Q合格預(yù)置范圍	5～1000聲光提示
環(huán)境溫度	0℃～+40℃
消耗功率	約25W
電源	220V±22V，50Hz±2.5Hz
極片尺寸	38mm/50mm(二選一)
極片間距可調(diào)范圍	≥15mm
材料測(cè)試厚度	0.1-10mm
夾具插頭間距	25mm±0.01mm
夾具損耗正切值	≤4×10－4 （1MHz）
測(cè)微桿分辨率	0.001mm
測(cè)試極片	材料測(cè)量直徑Φ38mm/50mm，厚度可調(diào) ≥ 15mm